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產品名稱: XQ15-GI激光平面干涉儀
型號規格: XQ15-GI激光平面干涉儀
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產品類別: 常規產品 -- 儀器儀表 -- 光學儀器
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參考價格: 廠價直銷
產品品牌: 上光
產品產地: 上海
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可供數量: 批量
供貨周期: 現貨(或電詢)
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13901609058
郵件 91way@163.com
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產品簡介:
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XQ15-GI激光平面干涉儀產品詳細說明:
產品簡介:
1、防震性能好、有極好的條紋鎖定度、視場清晰、生產場所可用性優于市場同類產品,大容量的
2、工作室為大批量生產企業的大鏡面檢測提供了方便。

XQ15-GI 激光平面干涉儀技術參數:

1、第一標準平面(A面),工作直徑D1=φ146mm,平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)
2、第二標準平面(B面),工作直徑D2=φ140mm,平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)
3、準直系統:工作直徑φ146mm,孔徑F/2.8,焦距f=400mm
4、測微目鏡:焦距f=16.7mm;
5、視場角:2W=40?;放大倍數β=15X
6、成像物鏡:D=7,F=16
7、光源規格:ZN18(He-Ne)
8、干涉室尺:φ480*380*285mm

XQ15-GI激光平面干涉儀
產品分類
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