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產品名稱: |
11XB-PC研究級透反射偏光暗場DIC顯微鏡
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型號規格: |
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放大圖片 |
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產品類別: |
常規產品 -- 儀器儀表
-- 顯微鏡 |
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參考價格: |
廠價直銷 |
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產品品牌: |
上光 |
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產品產地: |
上海 |
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可供數量: |
批量 |
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供貨周期: |
現貨(或電詢) |
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產品簡介: |
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11XB-PC研究級透反射偏光暗場DIC顯微鏡產品詳細說明:
11XB-PC研究級透反射偏光暗場DIC顯微鏡
型號:11XB-PC
研究級透反射偏光暗場DIC顯微鏡
技術參數
1.觀察頭:任意可調,可調瞳距50mm-75mm,正像人性化0°~45°可調
2.目鏡:WF10/25mm
3.平場無限遠復消色差長工作距離物鏡:
5X/0.15W.D.44mm
10X/0.30W.D.34mm
20X/0.35W.D.30mm
50X/0.50W.D.17mm
4.轉換器:可調中心四控轉換器
5.輪廓照明:
光源:鹵素燈泡(12V,50W)
光學系統:帶有可調整光圈的遠心照明系統
功能:光強度可調,無極亮度調整
6.表面照明:
光源:鹵素燈泡(12V,50W)
光學系統:帶孔徑光欄和視場光欄Kohler照明
功能:光強度可調,無極亮度調整
7.偏光裝置:檢偏器可360°轉動起偏鏡,檢偏鏡均可移光路
8.顯示裝置:
軸數:2軸或3軸
分辨率:0.001mm/0.005mm/0.0005mm
功能:調零,方向轉換,數據輸出,TTL訊號
電源:AC85V~230V
9.檢測工具:0.01mm測微尺
10.平臺:
X、Y工作臺移動范圍:100mm*100mm
Z軸移動范圍:150mm
調焦方式:手動調焦
測量方式:線性編碼器:3軸型:X/Y/Z軸
2軸型:X/Y軸
分辨率:0.001mm/0.005mm/0.0005mm
測量精度:準確度的測量基準為20±1℃
浮動的功能:帶有快速斷開功能的X和Y軸
XY工作臺臺面尺寸:286mm*286mm
載物玻璃有效尺寸:180mm*180mm
產品簡介:
11XB-PC研究級透反射偏光暗場DIC顯微鏡作為高級金相顯微鏡使用,是針對半導體工業、硅片制造業、電子信息產業、冶金工業開發的,可用來鑒別和分析各種金屬和合金的組織結構,可廣泛應用在工廠或實驗室進行鑄件質量的鑒定、原材料的檢驗或對材料處理后金相組織的研究分析等工作。符合人機工程學要求的設計,使您在工作中感到舒適和放松。
選購件:
1.15X、20X目鏡
2.WF10X/20mm,帶0.1mm十字分劃板
3.物鏡:PL L2X 、PL L100X
4.適配鏡
5.工業相機
6.分析軟件
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